好録音探求

 『演奏者の存在を身近に感じられる録音』を求めて・・・
久しぶりの測定記事です。ソニーのバランスド・アーマチュア型イヤホンXBA-300の周波数特性と測定してみました。ヘッドホン・イヤホン 周波数特性 測定結果にも掲載しています。

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図1 Sony XBA-300 周波数特性
■SPL ■2次歪 ■3次歪 ■Impedance / 測定環境


それで,どちらかといえば次が本記事の本題になるのですが,このイヤホンをサンプルに,自由音場補正周波数特性の測定にチャレンジしてみたので,その結果を報告します。<疑似>としているのは,その測定方法を完全に実施出来ているわけではなく,幾つものエクスキューズが付いた「真似してやってみました」レベルだからです。その点,ご了承いただきたく思います。

「自由音場補正周波数特性」とは,一般社団法人 電子情報技術産業協会(以下JEITA)が発行する規格 “RC-8140B-1 ヘッドホン及びイヤホン(追補)(2016年3月発行)”の中で定義された周波数特性です。 この周波数特性の意味するところは,規格を推進されたJEITAの委員へのインタビュー記事「各社バラバラに計測「ヘッドホンのハイレゾ測定法」がついに統一? JEITAの新規格を聞く(Phile-web 2016/6/10)」で詳しく解説されていますので,そちらをご参照ください(手抜きですみません)。

上記のインタビュー記事ではハイレゾ測定にフォーカスされていますが, イヤホンの特性をスピーカの特性のように読みやすくするという意味で可聴帯域でもそれなりに意味があります(つまりフラット特性を一つの基準にデータを見ることが出来る)。

しかし,規格通りに測定するのは,測定器が高価すぎて個人レベルではほぼ困難です。 そのため今回の方法には,①規格に沿った測定器を用いていない, ②自由音場補正のためのデータが使用した測定器の実測値に基づくものではない,という二つの大きな問題があります。 これが<疑似>の大きな理由です。

上記のように,データの信頼性は残念ながら全くありませんが, とにかくやってみなければ何もわからないということで今回チャレンジしてみました。 上記①については,上記の測定でも使用しているシリコンチューブを使った自作カプラーを使用し(測定環境をご参照ください), 上記②については,ITU-T勧告P.58で定義されているHATSの自由音場特性の値を適用しました。 測定はARTA Softwareのオクターブ分析機能を用い,ピンクノイズ1mW相当の入力に対し1/3オクターブバンドで分析して値を出しています。

ということで,こういった幾つものエクスキューズを念頭に次のデータを見ていただければと思います。

fq_resp_sony_xba-300_lch_ffc_20170121.png
図2 Sony XBA-300 <疑似>自由音場補正周波数特性
■SPL ■SPL(after free field compensation) ■ITU-T P.58 Free field frequency response


私はこのXBA-300について,少し低域が多すぎるけど高域がシャキッとして結構好きな周波数バランスだと思っていました。この特性を見ると,まあその印象に近いデータが得られたような気もしています(^^;。まあいずれにしても参考の参考の参考くらいにしかなりませんが...

ということで,個人レベルでは規格に沿ったまともな測定は困難で,得られるデータも信頼性に乏しいので,これ以上続けてやるかどうかは微妙ですが,機会があればまた試してみたいと思います。

タグ : [ヘッドホン]

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